SoC/模擬測試系統(tǒng) 3650-S2產品特色

●12個通用插槽，全部插槽都可配置數字、模擬和混合信號集成電路測試單板使用

●多達768個數字和模擬測試通道時鐘頻率: 50 /100 MHz

●數據速率:100 /200 Mbps (MUX)時序沿設置精度(EPA):±300ps32 MW 向量存儲深度

●32 MW 向量指令存儲深度

●各數字通道均內建 PPMU/頻率量測單元2G SCAN向量存儲深度

●ALPG 功能可供存儲器測試使用(可選配)多達48個高電壓通道多種規(guī)格VI浮動源單板

●64通道高密度電源供應單板HDDPS2(可選配)

●高達3750V串聯(lián)輸出電壓模擬測試單板HVVI(可選配)

●8通道波形發(fā)生器(AWG)加8通道數字化轉換器(Digitizer)音頻頻段混合信號測試單板ASO(可選配)

●最高320A pulse高電流測試單板MPVI(可選配)32通道模擬測試單板VI45(可選配)

●8通道高壓模擬測試單板 PVI100(可選配)預留大面積測試接口板元器件擺放區(qū)域測試機配置大功率電源

●Microsoft Windows® 7 / Windows®10操作系統(tǒng) C++和 GUI 編程界面

●工具易用且完整的操作界面CRISP

●提供其他測試平臺程序和向量轉換工具

●透過轉接套件可兼容其他測試平臺的測試接口板(PIB)與探針卡支持 STDF 格式數據輸出

●風冷式散熱設計，占地面積小

半導體制造為一發(fā)展迅速前進的產業(yè)。當待測器件的功能集成度變得越來越高時，生產設備需針對產品更新?lián)Q代與多個應用領域進行設計。

Chroma 3650-S2具有靈活的配置，多種可選配功能，例如AD /DA 轉換器測試、ALPG供內存測試、高電壓PE、Multi-SCAN測試及模擬測試，使其能廣泛測試多種不同的裝置。3650-S2特別適用于測試電源管理類芯片，同時也可用于SoC產品測試，搭配多種不同的VI浮動電源選配板卡如HDDPS2、HVVI、PVI100和MPVI，可以達到3750V或320A的供電能力，涵蓋高精度、高電壓和大電流的測試需求。

3650-S2測試系統(tǒng)具備完整的測試功能、高精準度、強大的軟件和出色的可靠性，是測試高性能MCU、模擬芯片、消費性SoC的理想選擇，同時，憑借高產出和高并行的測試能力，3650-S2可為芯片設計公司、IDM和測試廠提供高性價比解決方案。

高性價比的高性能測試系統(tǒng)

Chroma 3650-S2具備高產出和高并行的測試能力，可為芯片設計公司、IDM和測試廠提供高性價比的解決方案，其完整的測試功能、高精準度、強大的軟件和出色的可靠性，使其成為測試電源管理類芯片、模擬芯片、化合物半導體及MCU的理想選擇。

3650-S2提供多種VI電源選配單板，如HDDPS2、HVVI、VI45、PVI100 和MPVI，包含高密度、高電壓、大電流、高精度量測功能，具備高達768個數字和模擬通道管腳以及模擬測試功能，可提供高測試性能、高產出，同時具有高性價比的測試解決方案。

高并行測試能力

3650-S2測試系統(tǒng)具有強大多功能的并行管腳電路(PE)，因此可以同時在多個管腳進行相同的參數測試。3650-S2將64個數字通道管腳集成到一張LPC單板上，每張LPC單板包含16顆4通道的時序發(fā)生器的高性能Chroma PINF芯片。

單板上集成管理信號分配和數據讀出的控制芯片，因此減少了測試機系統(tǒng)控制器的負擔。3650-S2采用any-pin-to-anysite mapping 設計，提供高達32 sites 的高并行測試能力，通過靈活直觀地資源分配來促進大規(guī)模量產。

靈活的配置與廣泛的應用覆蓋范圍

半導體制造為一發(fā)展迅速前進的產業(yè)，生產設備須能使用于多個產品型號更替與應用領域，以延長設備使用期限。Chroma3650-S2提供AD/DA轉換器測試、ALPG供內存測試、高電壓PE、Multi-SCAN測試及模擬測試等多種可選配功能，靈活的配置確保其能應對未來的測試需求。

Chroma 3650-S2測試系統(tǒng)能輕松整合第三方廠商為特定應用所開發(fā)的相關儀器設備，彈性結構設計使其能涵蓋測試的裝置更廣泛，擴展了測試的覆蓋范圍。

占地面積小

Chroma 3650-S2采用風冷式散熱及高度集成的測試頭設計，占地面積小卻能提供高高產量。透過選配不同的支架，3650-S2可以應用于晶圓或封裝測試。

CRISP 完整軟件直觀操作環(huán)境

Chroma 3650-S2采用Chroma整合軟件平臺CRISP，這是一套易于操作且功能強大的軟件工具，讓使用者可以高效地進行測試開發(fā)，其功能涵蓋調試、量產及數據分析等，整合了測試程序開發(fā)、測試執(zhí)行控制、數據分析、測試機管理等所有軟件功能，采用Microsoft Windows操作系統(tǒng)及C++程序語言，提供使用者強大、快速和友善操作的GUI工具。

在測試程序整合開發(fā)環(huán)境(ProjectIDE tool)內，測試開發(fā)人員可以在標準模板、自定義模板和使用C++程序語言的編輯器之間輕松轉換，快速創(chuàng)建測試程序并自動擴展至多工位以便進行并行測試，此外，如果需從其他測試平臺轉移至3650-S2，CRISP還提供測試程序和測試向量轉換工具，除了提升設備整合開發(fā)彈性，也能降低轉移的時間成本。測試程序執(zhí)行控制器可以在System Control tool和Plan Debugger tool這兩種工具之間切換，讓使用者在量產或工程調試模式都能有效率地操作，使用者可以在Plan Debugger tool內透過設置breakpoint、step、step-into、step-over、resume execution、variable-watch及variablemodify來執(zhí)行測試程序的進程。

CRISP提供豐富軟件工具來進行工程調試和數據分析，包含Datalog、Waveform 及Scope 工具可以清楚的顯示測量數據和數字波型，SHMOO 和Pin Margin工具可以透過自動或手動模式輕松地進行工程調試以找出邊沿參數，Wafer Map.Summary、Histogram 及STDF這些工具可以有效幫助搜集測試結果和分析測試指標，Test Condition Monitor 和 Pattern Editor工具提供實時工程調試的進階功能，并且在不影響測試或調整源文件的狀況下，允許用戶調整測試條件或測試向量。另外，CRISP還為模擬測試和 ALPG選配功能提供ADDA tool和Bit Map tool，運用ADDA tool時，用戶不但可以透過圖形化工具來檢視AD/DA的測試結果，還能輕松自行創(chuàng)建ADC向量。這套強大的 GUI工具可以完整地滿足你對于工程調試和生成測試報告的所有功能需求。

操作員界面(OCI) 是使用于量產的操作界面，它能簡化并確保量產測試的正確運作，在讓操作員操作OCI之前，工程師可以事先在量產設置頁面(Production Setup)設定好量產時所需的相關參數，后續(xù)當操作員使用OCI時，只需選擇設定好的計劃即可執(zhí)行量產測試。

周邊設備

Chroma 3650-S2提供多種驅動程序，可藉由GPIB和TTL協(xié)議與探針臺及分選機通訊，支援的探針臺及分選機包含CHROMA、SEIKO-EPSON、HONTECH、 SHIBASOKU、MULTITEST、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK和 OPUS。除此之外，3650-S2提供與常見測試平臺的轉接方案，透過轉接套件使其能兼容其他測試平臺的測試接口板(PIB)與探針卡，以利測試平臺的轉移及降低轉移成本。

SoC/模擬測試系統(tǒng) 3650-S2應用支持

Chroma為客戶提供應用支持，針對您的需求Chroma可提供您客制化的支持，不論您是需要提高產量、利用新興的市場機會提高生產力或是運用創(chuàng)新的策略降低測試成本， Chroma的全球服務團隊都致力于為您提供及時有效的解決方案。